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ed線路板御用PCT加速壽命試驗機詳情： 隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，採用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試

線路板檢測設備|HSAT老化試驗箱|PCT高溫高壓試驗機 線路板檢測設備|HSAT老化試驗箱|PCT高溫高壓試驗機應用范圍： 線路板檢測設備|HSAT老化試驗箱|PCT高溫高壓試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者